陶瓷電容的(de)失效分析

陶瓷電容的應(yīng)用已經越來越(yuè)廣了，但我們都(dōu)知道🐉，陶瓷電容(rong)是會損壞的，是(shì)會失效的，導緻(zhi)陶瓷電容✏️失效(xiào)的原因有很多(duō)，這次我們來分(fen)下下陶瓷電容(róng)🛀🏻失效後的情況(kuang)。

通過掃描(miáo)電鏡發現的陶(táo)瓷電介質微觀(guan)形貌，可以看到(dao)失效⁉️的樣貌和(hé)原樣相比不僅(jin)顔色發生變化(hua)，而且有裂紋和(hé)不完整的的存(cun)在。陶瓷介質中(zhong)存在❄️一些大小(xiǎo)不等的微小孔(kong)洞，等效于介質(zhì)厚度減小👄，可能(néng)會降低電容器(qi)的擊穿絕緣強(qiáng)度。

内(nèi)電極之間是陶(táo)瓷介質，陶瓷介(jiè)質中分布着一(yī)-些🎯大小㊙️不等🐆的(de)微小孔洞，在高(gāo)溫下電極非常(chang)容易擴🔞散遷移(yi)，擴散到陶瓷介(jie)質💜中，在潮濕和(hé)雜質離子的作(zuo)用下，這些孔洞(dòng)成爲電極遷移(yi)的通道，從而導(dǎo)緻電容器的絕(jué)緣電阻下降，漏(lou)電流增大，出🐇現(xian)電容器🥰擊穿，燒(shāo)毀失效。

我(wo)們對金屬電極(ji)的能譜分析，表(biǎo)明失效電容的(de)電極中碳和🔞氧(yang)的含量增加了(le)，說明金屬電極(ji)發生了氧化并(bing)卻有新的含碳(tan)的化合物生成(chéng)，這會導緻陶瓷(ci)電容的損耗角(jiǎo)正切值D增加，絕(jue)緣電☎️阻增大，電(diàn)容量漂移。間隔(ge)着具有半導體(tǐ)性質的氧化銀(yín)，使無機介質電(dian)容器❄️的等效串(chuan)聯電阻增大，金(jīn)屬部分損耗增(zeng)加，電容器的損(sun)耗角正切值D顯(xiǎn)著上升。